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实验室称量
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ME-T分析天平
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ME-T 分析天平
 

FACT全自动校准技术*

温度漂移和工程时间设置触发的全自动校正

外部校正

案件执行外部砝码校正

全金属底座

防化学防撞击机架,保证了天平的长期使用。

密码保护

避免天平设置被更改

过载保护

保护传感器免受超负荷称量。

*仅限有内校功能的型号

型号 最大秤量 /g 可读性 /mg 重复性(sd) /mg 线性误差 /mg 秤盘尺寸 /mm 校正技术
ME54T 52 0.1 0.08 0.06 90 内校
ME54TE 52 0.1 0.08 0.06 90 外校
ME104T 120 0.1 0.08 0.06 90 内校
ME104TE 120 0.1 0.08 0.06 90 外校
ME204T 220 0.1 0.08 0.06 90 内校
ME204TE 220 0.1 0.08 0.06 90 外校

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